AI外観検査のDEEPS 不良検知から不良撲滅へと機能強化

AI外観検査のDEEPS 不良検知から不良撲滅へと機能強化

検査の自動化から本質改善へ

株式会社パトスロゴス株式会社パトスロゴス(代表取締役社長:牧野正幸、以下パトスロゴス)は、AI画像解析を使った外観検査システム「DEEPS」に、不良を造らない本質改善を目的とした機能強化を行いました。 ※不良種類や発生位置(座標軸)、頻度といったデータが蓄積されます。■不良品とともに捨てられる貴重な情報現状の外観検査においては、検査(=良/不良の判定)することがゴールとなっており、いかに早く、正確に、不良を見逃さないかという点に主眼が置かれています。また、1箇所の不良を見つけた時点で「不良品」と選別されてしまうため、その中にある正常箇所の情報や、実は他にも不良が潜んでいるといった貴重なデータは、不良品ととともに捨てられているのが実状です。■DEEPSの検査目的は不良を造らないことパトスロゴスでは、効率よく不良を検知することは改善の過程に過ぎず、そもそも不良を発生させないことが、AI画像検査を利用する目的であると考えます。DEEPSでは、製品の中の何が正常で、どこにどういった不良が発生するかを、全て価値のある情報としてデータ蓄積します。検査回数を重ねれば重ねるほど、製品の正常情報、不良情報がビッグデータとして溜まり、不良発生の傾向から生産工程の改善に直接寄与します。品質検査は、不良を見つけるための工程ではなく、不良を発生させない仕組みへと変化します。■本質改善セミナーの開催単純な検査の自動化ではなくものづくりの本質改善へ向けて、オンラインセミナーを開催しますタイトル: 『検査の自動化から本質改善へ』日時: 第1回:8月24日(火) 11:00-11:40 第2回:9月3日(金) 11:00-11:40 ※第1回と2回の内容は同じになります。開催場所: zoomアジェンダ:
  1.  【プレゼンテーション】 自動検査AI×品質改善
  2.  【デモンストレーション】 生産改善に向けたAI外観検査DEEPSの実演を行います。
  3.  【質疑応答】 チャットで投稿いただいた質問に順次ご回答いたします。
申込⽅法: 下記URLよりお申込みください。 https://www.deeps.pathoslogos.co.jp/event ※以下、メディア関係者限定の特記情報です。個人のSNS等での情報公開はご遠慮ください。
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